Roughness Tester เครื่องวัดความเรียบผิว MMD-HPGF Series
ฟังก์ชันการแก้ไขของตำแหน่งเฟสต่างๆ และผลการวัดจะไม่ได้รับผลกระทบจากการเบี่ยงเบนของตำแหน่งที่เกิดจากการเยื้องศูนย์และความเอียงของชิ้นงาน มีตัวกรองอัลกอริธึมการประมวลผลรูปร่างเพื่อลดผลกระทบของการกระโดดเชิงตัวเลขที่เกิดจากการรบกวน ความไวสูงเป็นพิเศษและองค์ประกอบที่ไวต่อแสงไดนามิกที่หลากหลาย สามารถวัดชิ้นงานที่มีการสะท้อนแสงที่แตกต่างกัน และจะไม่ได้รับผลกระทบจากสีของชิ้นงานที่วัดได้
ทนทานต่อแสงสะท้อนหลายจุด แสงสะท้อนกระจาย แสงรบกวน และแสงเล็ดลอด
Non-contact roughness profile measuring instrument
Main parameters: auxiliary generation: including auxiliary points, auxiliary lines, auxiliary circles Roughness analysis: Ra, Rq, Rz (Ry), Rz (DIN), R3z, Rz (jis), Rp, Rv, Rt, Rsk, Rsm, Rc, Rpm, Rku, Rdq, Roc, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2, R, Rx, AR, Rcp, Rmax, Rz-ISO waviness analysis: wt, wa, wp, wv ,wq,wc,wku,wsk,w,wx,wz,wsm,wdc,wte,wmr,Aw,c(wmr)wmr(c),wdq

Measurement function
Dimensions: including horizontal distance, vertical distance, linear distance, radius, diameter
Angle: including horizontal angle, vertical angle, and included angle
Auxiliary generation: including auxiliary points, auxiliary lines, auxiliary circles Roughness analysis: Ra, Rq, Rz (Ry), Rz (DIN), R3z, Rz (jis), Rp, Rv, Rt, Rsk, Rsm, Rc, Rpm , Rku, Rdq, Roc, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2, R, Rx, AR, Rcp, Rmax, Rz-ISO
Waviness analysis: wt, wa, wp, wv, wq, wc, wku, wsk, w, wx, wz, wsm, wdc, wte, wmr, Aw, c (wmr) wmr (c), wdq
Technical Highlights
● Realize the correction function of different phase positions, and the measurement results will not be affected by the position deviation caused by workpiece misalignment and inclination
● Equipped with a shape processing algorithm filter to minimize the impact of numerical jumps caused by interference
● Ultra-high sensitivity and wide range of dynamic photosensitive elements, can measure workpieces with different reflectivity, and will not be affected by the color of the measured workpiece
● Resistance to multiple reflections, diffuse reflections, interfering light and stray light
Item/Specification |
MMD-HPG100F |
Measuring range |
X axis |
100mm |
Y axis |
±20mm |
Z axis (contour) |
Measuring distance: 4mm |
Working distance: 10mm |
Z axis (roughness) |
Measuring distance: 0.4mm |
|
Working distance: 5mm |
|
Maximum measuring distance |
200mm |





